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在這個領域擁有近50年的歷史，Gentec Electro Optics一直是激光功率計和能量測量領域的供應商。 Gentec-EO還為您提供UP12-H＆UP19-H系列通用寬帶譜平面功率探頭，UP...

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在這個領域擁有近50年的歷史，Gentec Electro Optics一直是激光功率計和能量測量領域的供應商。 Gentec-EO還為您提供UP12-H＆UP19-H系列通用寬帶譜平面功率探頭，U...

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加拿大Gentec-EO 推出激光功率計能量計表頭，為擁有激光功率測量系統，您將需要一款采集與讀出設備搭配您的功率探測器。無論您希望在大型觸摸顯示屏彩色 LCD 顯示屏上，或是連接 USB/RS-23...

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LID光熱偏轉技術弱吸收儀采用光熱偏轉技術，用于測量透明光學材料及鍍膜產品受到激光照射后產生的微弱吸收。在強激光照射下，材料內部由于吸收熱能產生折射率梯度現象（熱透鏡效應），當一束探測光經過“熱透鏡”...

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PCI共光路干涉弱吸收儀測量原理：Pump 光(泵浦光)為一束光束質量較好的強激光聚焦到待測樣品上，光吸收的存在將在樣品內部產生熱波，從而在樣品內部形成周期性的梯度折射率分布，即熱透鏡效應，當一束Pr...

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ZG Optique SA成立于1999，一直致力于開發和生產高精度的光電儀器和測量系統， 用于計量、運輸、光學工業和科研。自動測角儀G-1DA用于測量光學產品面與面之間的夾角。

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角分辨散射測量系統-Horos簡易型散射儀角分辨散射測量系統-Horos(hight sensitive optical roughness sensor)簡易型散射儀 是一種小型的，便于移動的光學傳...

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穆勒矩陣測量系統中采用四個光彈性調制器(PEM)，150XT Mueller偏振計可以在短時間內同時測量所有十六個穆勒r矩陣元素和樣品的完整偏振特性。 Hinds 儀器公司產品系列的這一新增功能可應用...

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Hinds 儀器的應力雙折射測量系統Exico-150AT是Exicor®雙折射測量系統系列產品的工作平臺。 該系統具有足夠的多樣性，在生產車間和研發實驗室環境中均可勝任。 該模型廣泛用于研...

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